ISO/TC 172/SC 9

Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
60947ISO 17901-2:2015Optics and photonics — Holography — Part 2: Methods for measurement of hologram recording characteristicsStandarts spēkā
72946ISO 17915:2018Optique et photonique — Méthode de mesure des lasers semi-conducteurs pour la sensibilitéStandarts spēkā
87908ISO 13695:2024Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Test methods for the spectral characteristics of lasersStandarts spēkā
60946ISO 17901-1:2015Optique et photonique — Holographie — Partie 1: Méthodes de mesurage de l'efficacité de diffraction et caractéristiques optiques associées aux hologrammesStandarts spēkā
40510ISO 11670:2003/Cor 1:2004Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres du faisceau laser — Stabilité de visée du faisceau — Rectificatif technique 1Standarts spēkā
45523ISO/TR 14880-5:2010Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 5: Lignes directrices pour essaiStandarts spēkā
83937ISO 21254-1:2025Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 1: Définitions et principes de baseStandarts spēkā
61833ISO 11151-1:2015Lasers and laser-related equipment — Standard optical components — Part 1: Components for the UV, visible and near-infrared spectral rangesStandarts spēkā
61834ISO 11151-2:2015Lasers and laser-related equipment — Standard optical components — Part 2: Components for the infrared spectral rangeStandarts spēkā
35649ISO 17526:2003Optics and optical instruments — Lasers and laser-related equipment — Lifetime of lasersStandarts spēkā
Attēlo no 111. līdz 120. no pavisam 151 ieraksta(-iem).