ISO/TC 172/SC 9

Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
33627ISO/TR 11146-3:2004Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam widths, divergence angles and beam propagation ratios — Part 3: Intrinsic and geometrical laser beam classification, propagation and details of test methodsStandarts spēkā
45523ISO/TR 14880-5:2010Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 5: Lignes directrices pour essaiStandarts spēkā
60947ISO 17901-2:2015Optics and photonics — Holography — Part 2: Methods for measurement of hologram recording characteristicsStandarts spēkā
69227ISO/TR 20811:2017Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Laser-induced molecular contamination testingStandarts spēkā
83940ISO 14880-2:2024Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 2: Méthodes d'essai pour les aberrations du front d'ondeStandarts spēkā
27396ISO 15367-1:2003Lasers and laser-related equipment — Test methods for determination of the shape of a laser beam wavefront — Part 1: Terminology and fundamental aspectsStandarts spēkā
72947ISO 14880-1:2019Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: VocabulaireStandarts spēkā
45011ISO 11553-3:2013Sécurité des machines — Machines à laser — Partie 3: Méthodes de mesure et de réduction du bruit des machines à laser, des dispositifs de traitement portatifs et des équipements auxiliaires connexes (classe de précision 2)Standarts spēkā
75857ISO 13142:2021Optique et photonique — Lasers et équipement associé aux lasers — Méthode d'alternance de la cavité pour les mesurages du facteur de réflexion et du facteur de transmissionStandarts spēkā
40510ISO 11670:2003/Cor 1:2004Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres du faisceau laser — Stabilité de visée du faisceau — Rectificatif technique 1Standarts spēkā
Attēlo no 121. līdz 130. no pavisam 146 ieraksta(-iem).