ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 54282 | ISO/NP 13682-2 | Lasers and laser-related equipment - Determination of the properties of ultrashort laser pulses - Part2: Autocorrelation measurement method — Part 2: | Izstrādē |
| 70724 | ISO/WD 21254-2 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 2: Détermination du seuil | Izstrādē |
| 52956 | ISO/NP 11551 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthode d'essai du facteur d'absorption des composants optiques pour lasers | Izstrādē |
| 40767 | ISO 11554:2003/NP Amd 1 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai de la puissance et de l'énergie des faisceaux lasers et de leurs caractéristiques temporelles — Amendement 1 | Izstrādē |
| 54281 | ISO/NP 13682-1 | Laser et équipement laser associé — Détermination des propriétés des pulsations laser ultra-courtes — Partie 1: Vocabulaire | Izstrādē |
| 40765 | ISO 11145:2001/DAmd 1 | Optics and optical instruments — Lasers and laser-related equipment — Vocabulary and symbols — Amendment 1 | Izstrādē |
| 77721 | ISO/PWI 21254-1 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 1: Définitions et principes de base | Izstrādē |
| 70725 | ISO/WD 21254-1 | Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser-induced damage threshold — Part 1: Definitions and general principles | Izstrādē |
| 52957 | ISO/NP 11670 | Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam parameters — Beam positional stability | Izstrādē |
| 50332 | ISO/NP 11146-1 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, angles de divergence et facteurs de limite de diffraction — Partie 1: Faisceaux stigmatiques et astigmatiques simples | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 146 ieraksta(-iem).