ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 34199 | ISO 11252:2004 | Lasers et équipements associés aux lasers — Source laser — Exigences minimales pour la documentation | Atcelts |
| 43168 | ISO 13694:2000/Cor 1:2005 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai de distribution de la densité de puissance (d'énergie) du faisceau laser — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
| 19230 | ISO 11252:1993 | Lasers et équipements associés aux lasers — Source laser — Exigences minimales pour la documentation | Atcelts |
| 60988 | ISO/TS 17915:2013 | Optique et photonique — Méthode de mesure des lasers semi-conducteurs pour la sensibilité | Atcelts |
| 19232 | ISO 11254-1:2000 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques — Partie 1: Essai 1 sur 1 | Atcelts |
| 42724 | ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 2 | Atcelts |
| 21141 | ISO 14880-1:2001 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire | Atcelts |
| 41097 | ISO 11254-3:2006 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques — Partie 3: Vérification de la capacité à supporter la puissance (l'énergie) laser | Atcelts |
| 19507 | ISO 11553:1996 | Sécurité des machines — Machines à laser — Prescriptions de sécurité | Atcelts |
| 36642 | ISO 14880-4:2006 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 4: Méthodes d'essai pour les propriétés géométriques | Atcelts |
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 146 ieraksta(-iem).