ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 21141 | ISO 14880-1:2001 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire | Atcelts |
| 19507 | ISO 11553:1996 | Sécurité des machines — Machines à laser — Prescriptions de sécurité | Atcelts |
| 64144 | ISO 14880-1:2016 | Optics and photonics — Microlens arrays — Part 1: Vocabulary and general properties | Atcelts |
| 43006 | ISO 11145:2006 | Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Vocabulary and symbols | Atcelts |
| 41097 | ISO 11254-3:2006 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques — Partie 3: Vérification de la capacité à supporter la puissance (l'énergie) laser | Atcelts |
| 20618 | ISO 11990:1999 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination de la résistance au laser des tubes trachéaux | Atcelts |
| 33625 | ISO 11146-1:2005 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, angles de divergence et facteurs de limite de diffraction — Partie 1: Faisceaux stigmatiques et astigmatiques simples | Atcelts |
| 42724 | ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 2 | Atcelts |
| 53362 | ISO 13142:2015 | Systèmes électro-optiques — Technique d'alternance de la cavité pour le mesurage du facteur de réflexion | Atcelts |
| 19232 | ISO 11254-1:2000 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques — Partie 1: Essai 1 sur 1 | Atcelts |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 146 ieraksta(-iem).