ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 42724 | ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 2 | Atcelts |
| 34199 | ISO 11252:2004 | Lasers et équipements associés aux lasers — Source laser — Exigences minimales pour la documentation | Atcelts |
| 19231 | ISO 11253:1993 | Lasers et équipements associés aux lasers — Source laser — Interfaces mécaniques | Atcelts |
| 72957 | ISO 22248:2020 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Classification des systèmes de transmission de faisceau médical | Atcelts |
| 20617 | ISO 11807-1:2001 | Integrated optics — Vocabulary — Part 1: Basic terms and symbols | Atcelts |
| 25825 | ISO 14881:2001 | Optique intégrée — Interfaces — Paramètres caractérisant les propriétés de couplage | Atcelts |
| 65248 | ISO 11810:2015 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthode d'essai et classification de la résistance au laser pour des draps chirurgicaux et/ou des couvertures de protection des patients — Inflammation principale, pénétration et inflammation secondaire | Atcelts |
| 34200 | ISO 14880-2:2006 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 2: Méthodes d'essai pour les aberrations du front d'onde | Atcelts |
| 72955 | ISO/TS 22247:2022 | Optics and photonics — Effective numerical aperture of laser lenses — Definition and verification procedure | Atcelts |
| 60947 | ISO 17901-2:2015 | Optics and photonics — Holography — Part 2: Methods for measurement of hologram recording characteristics | Atcelts |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 146 ieraksta(-iem).