ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 72948 | ISO 11807-1:2021 | Optique intégrée — Vocabulaire — Partie 1: Termes fondamentaux et symboles des guides d'onde optique | Atcelts |
| 22670 | ISO 13696:2002 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai du rayonnement diffusé par les composants optiques | Atcelts |
| 43002 | ISO 21254-2:2011 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 2: Détermination du seuil | Atcelts |
| 64144 | ISO 14880-1:2016 | Optics and photonics — Microlens arrays — Part 1: Vocabulary and general properties | Atcelts |
| 77770 | ISO 11146-2:2021 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, angles de divergence et facteurs de limite de diffraction — Partie 2: Faisceaux astigmatiques généraux | Atcelts |
| 43183 | ISO 15902:2004/Cor 1:2005 | Optique et photonique — Optique diffractive — Vocabulaire — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
| 2519 | ISO 11146:1999 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres des faisceaux laser — Largeurs du faisceau, angle de divergence et facteur de propagation du faisceau | Atcelts |
| 43006 | ISO 11145:2006 | Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Vocabulary and symbols | Atcelts |
| 75857 | ISO 13142:2021 | Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Cavity ring-down method for high-reflectance and high-transmittance measurements | Atcelts |
| 34199 | ISO 11252:2004 | Lasers and laser-related equipment — Laser device — Minimum requirements for documentation | Atcelts |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 151 ieraksta(-iem).