ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 31277 | ISO 12005:2003 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres du faisceau laser — Polarisation | Atcelts |
| 37587 | ISO 11810-1:2005 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthode d'essai et classification de la résistance au laser pour des draps chirurgicaux et/ou des couvertures de protection des patients — Partie 1: Inflammation primaire et pénétration | Atcelts |
| 31691 | ISO 11554:2003 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai de la puissance et de l'énergie des faisceaux lasers et de leurs caractéristiques temporelles | Atcelts |
| 36641 | ISO 14880-3:2006 | Optics and photonics — Microlens arrays — Part 3: Test methods for optical properties other than wavefront aberrations | Atcelts |
| 2527 | ISO 11149:1997 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Connecteurs pour fibres optiques pour les applications laser autres que télécommunication | Atcelts |
| 43183 | ISO 15902:2004/Cor 1:2005 | Optique et photonique — Optique diffractive — Vocabulaire — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
| 28652 | ISO 15902:2004 | Optique et photonique — Optique diffractive — Vocabulaire | Atcelts |
| 21142 | ISO 11254-2:2001 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques — Partie 2: Essai S sur 1 | Atcelts |
| 36642 | ISO 14880-4:2006 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 4: Méthodes d'essai pour les propriétés géométriques | Atcelts |
| 34200 | ISO 14880-2:2006 | Optics and photonics — Microlens arrays — Part 2: Test methods for wavefront aberrations | Atcelts |
Attēlo no 61. līdz 70. no pavisam 151 ieraksta(-iem).