ISO/TC 172/SC 9
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
53362 | ISO 13142:2015 | Systèmes électro-optiques — Technique d'alternance de la cavité pour le mesurage du facteur de réflexion | Atcelts |
72957 | ISO 22248:2020 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Classification des systèmes de transmission de faisceau médical | Atcelts |
33629 | ISO 15367-2:2005 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai pour la détermination de la forme du front d'onde du faisceau laser — Partie 2: Senseurs Shack-Hartmann | Atcelts |
19230 | ISO 11252:1993 | Lasers et équipements associés aux lasers — Source laser — Exigences minimales pour la documentation | Atcelts |
43006 | ISO 11145:2006 | Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Vocabulary and symbols | Atcelts |
42724 | ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 2 | Atcelts |
60947 | ISO 17901-2:2015 | Optics and photonics — Holography — Part 2: Methods for measurement of hologram recording characteristics | Atcelts |
64144 | ISO 14880-1:2016 | Optics and photonics — Microlens arrays — Part 1: Vocabulary and general properties | Atcelts |
38893 | ISO 14880-1:2001/Cor 1:2003 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
30654 | ISO 11553-1:2005 | Safety of machinery — Laser processing machines — Part 1: General safety requirements | Atcelts |
Attēlo no 61. līdz 70. no pavisam 146 ieraksta(-iem).