ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 19508 | ISO 11554:1998 | Optics and optical instruments — Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam power, energy and temporal characteristics | Atcelts |
| 38893 | ISO 14880-1:2001/Cor 1:2003 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
| 21141 | ISO 14880-1:2001 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire | Atcelts |
| 75857 | ISO 13142:2021 | Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Cavity ring-down method for high-reflectance and high-transmittance measurements | Atcelts |
| 43002 | ISO 21254-2:2011 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 2: Détermination du seuil | Atcelts |
| 72948 | ISO 11807-1:2021 | Optique intégrée — Vocabulaire — Partie 1: Termes fondamentaux et symboles des guides d'onde optique | Atcelts |
| 2476 | ISO 11145:1994 | Optics and optical instruments — Lasers and laser-related equipment — Vocabulary and symbols | Atcelts |
| 72949 | ISO 11807-2:2021 | Integrated optics — Vocabulary — Part 2: Terms used in classification | Atcelts |
| 72974 | ISO 14881:2021 | Optique intégrée — Interfaces — Paramètres caractérisant les propriétés de couplage | Atcelts |
| 77769 | ISO 11146-1:2021 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, angles de divergence et facteurs de limite de diffraction — Partie 1: Faisceaux stigmatiques et astigmatiques simples | Atcelts |
Attēlo no 61. līdz 70. no pavisam 151 ieraksta(-iem).