ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 34199 | ISO 11252:2004 | Lasers and laser-related equipment — Laser device — Minimum requirements for documentation | Atcelts |
| 64144 | ISO 14880-1:2016 | Optics and photonics — Microlens arrays — Part 1: Vocabulary and general properties | Atcelts |
| 37587 | ISO 11810-1:2005 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthode d'essai et classification de la résistance au laser pour des draps chirurgicaux et/ou des couvertures de protection des patients — Partie 1: Inflammation primaire et pénétration | Atcelts |
| 43006 | ISO 11145:2006 | Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Vocabulary and symbols | Atcelts |
| 45686 | ISO 11990-2:2010 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination de la résistance au laser des tubes trachéaux — Partie 2: Ballonnet de tubes trachéaux | Atcelts |
| 77769 | ISO 11146-1:2021 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, angles de divergence et facteurs de limite de diffraction — Partie 1: Faisceaux stigmatiques et astigmatiques simples | Atcelts |
| 72974 | ISO 14881:2021 | Optique intégrée — Interfaces — Paramètres caractérisant les propriétés de couplage | Atcelts |
| 72949 | ISO 11807-2:2021 | Integrated optics — Vocabulary — Part 2: Terms used in classification | Atcelts |
| 72948 | ISO 11807-1:2021 | Optique intégrée — Vocabulaire — Partie 1: Termes fondamentaux et symboles des guides d'onde optique | Atcelts |
| 43002 | ISO 21254-2:2011 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 2: Détermination du seuil | Atcelts |
Attēlo no 81. līdz 90. no pavisam 151 ieraksta(-iem).