ISO/TC 213
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 86678 | ISO/PWI 14253-2 | Spécification géométrique des produits (GPS) — Vérification par la mesure des pièces et des équipements de mesure — Partie 2: Lignes directrices pour l'estimation de l'incertitude dans les mesures GPS, dans l'étalonnage des équipements de mesure et dans la vérification des produits | Izstrādē |
| 86168 | ISO/DIS 10360-102 | Spécification géométrique des produits (GPS) — Essais de réception et de vérification périodique des systèmes à mesurer tridimensionnels (SMT) — Partie 102: Grammaire des symboles pour les caractéristiques métrologiques | Aptauja |
| 86108 | ISO/CD TS 15530-2 | Spécification géométrique des produits (GPS) — Machines à mesurer tridimensionnelles (MMT): Technique pour la détermination de l'incertitude de mesure — Partie 2: Evaluation de l'incertitude de mesure spécifique à une tâche par des stratégies de mesurage multiple utilisant une pièce non-étalonnée | Izstrādē |
| 85745 | ISO/PWI 8785 | Geometrical Product Specification (GPS) — Surface imperfections — Terms, definitions and parameters | Izstrādē |
| 85744 | ISO/AWI 25178-607 | Spécification géométrique des produits (GPS) -— État de surface: Surfacique — Partie 607: Conception et caractéristiques des instruments sans contact (microscopie confocale) | Izstrādē |
| 85743 | ISO/DIS 16610-22 | Spécification géométrique des produits (GPS) — Filtrage — Partie 22: Filtres de profil linéaires: Filtres splines | Aptauja slēgta |
| 85742 | ISO/PWI 18183-4 | Spécification géométrique des produits (GPS) — Partition — Partie 4: Partition définie de manière explicite | Izstrādē |
| 85741 | ISO/CD 2768 | General tolerances | Izstrādē |
| 85739 | ISO/PWI 10360-102 | Geometrical Product Specifications (GPS) — Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) — Part 102: The language of symbols G3 | Izstrādē |
| 85738 | ISO/PWI 10360-101 | Spécification géométrique des produits (GPS) — Essais de réception et de vérification périodique des systèmes à mesurer tridimensionnels (SMT) — Partie 101: Principes et objectifs sous-jacents | Izstrādē |
Attēlo no 31. līdz 40. no pavisam 477 ieraksta(-iem).