CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 51251 | LVS EN 61746:2005 | Optisko laika funkcijas reflektometru (OTDR) kalibrēšana | Atcelts |
| 51742 | LVS EN 61744:2002 | Optisko šķiedru hromatiskās dispersijas testa iekārtu kalibrēšana | Atcelts |
| 56002 | LVS EN 62007-2:2002 | Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 2. daļa: Mērīšanas metodes | Atcelts |
| 56520 | LVS EN 62007-1:2002 | Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 1.daļa: Būtiskie robežlielumi un raksturojumi | Atcelts |
| 80697 | prEN IEC 62496-2-6:2026 | Optical circuit boards - Part 2-6: Basic test and measurement procedures - Near field pattern analysis of multimode optical waveguides with rectangular core(s) using encircled flux methodology | Aptauja slēgta |
| 73041 | EN IEC 62496-4-3:2026 | Optische Leiterplatten - Teil 4-3: Schnittstellennormen - Konfektionierter OCB Wellenleiter mit 250 μm Raster MPO 16 Steckverbinder steckbaren einreihigem 32-Kanal PMT Steckverbinder | Standarts spēkā |
| 51553 | LVS EN 62496-4:2011 | Optiskās shēmplates. Saskarnes standarti. 4. daļa: Nostādnes un norādījumi (IEC 62496-4:2011) | Standarts spēkā |
| 55702 | LVS EN 62496-1:2009 | Optiskās shēmplates. 1. daļa: Vispārīgi (IEC 62496-1:2008) | Standarts spēkā |
| 58304 | LVS EN 61746-2:2011 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2. daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām (IEC 61746-2:2010) | Standarts spēkā |
| 49748 | LVS EN 62496-3-1:2010 | Optiskās shēmplates. Veiktspējas standarts. 3-1. daļa: Elastīgas optiskās shēmplates ar nesavienotām optiskajām stikla šķiedrām (IEC 62496-3-1:2009) | Standarts spēkā |
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 76 ieraksta(-iem).