CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 51383 | EN 62496-2-1:2011 | Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation | Izstrādē |
| 51553 | EN 62496-4:2011 | Optische Leiterplatten - Teil 4: Schnittstellennormen - Allgemeines und Leitfaden | Izstrādē |
| 63264 | EN 61745:2017 | Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern | Izstrādē |
| 59068 | EN 61746-1:2011/AC:2014 | Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 1: OTDR für Einmodenfasern | Izstrādē |
| 62702 | EN IEC 61315:2019 | Kalibrierung von Lichtwellenleiter-Leistungsmessgeräten | Izstrādē |
| 62742 | EN 62496-2:2017 | Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2: General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics of optical circuit boards | Izstrādē |
| 64961 | EN IEC 61290-4-4:2018 | Amplificateurs optiques - Méthodes d'essai - Partie 4-4: Paramètres de gain transitoire - Amplificateurs optiques monocanaux avec commande de gain | Izstrādē |
| 59069 | EN 61746-2:2011/AC:2014 | Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 2: OTDR für Mehrmodenfasern | Izstrādē |
| 63265 | EN IEC 62129-3:2019 | Étalonnage des appareils de mesure de longueur d'onde/appareil de mesure de la fréquence optique - Partie 3: Fréquencemètres optiques faisant référence en interne à un peigne de fréquence | Izstrādē |
| 42023 | EN 61746-1:2011 | Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 1: OTDR für Einmodenfasern | Izstrādē |
Attēlo no 1. līdz 10. no pavisam 76 ieraksta(-iem).