Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
55702LVS EN 62496-1:2009Optiskās shēmplates. 1. daļa: Vispārīgi (IEC 62496-1:2008)Standarts spēkā
62702LVS EN IEC 61315:2019Optisko šķiedru iekārtu jaudas mērītāju kalibrēšana (IEC 61315:2019)Standarts spēkā
69633LVS EN IEC 62496-4-214:2020Optiskās drukātās shēmas plates. 4-214.daļa: Saskarnes standarti. Iepriekš samontēts OCB viļņvads ar vienas šķiedru rindas 32 kanālu simetrisku PMT savienotāju (IEC 62496-4-214:2020)Standarts spēkā
60111LVS EN 62129-1:2016Viļņa garuma/optiskās frekvences mērinstrumentu kalibrēšana. 1.daļa: Optiskā spektra analizatori (IEC 62129-1:2016)Standarts spēkā
63265LVS EN IEC 62129-3:2019Viļņa garuma/optiskās frekvences mērinstrumentu kalibrēšana. 3.daļa: Optiskie frekvences mērītāji ar iekšēju atsauci uz frekvenču ķemmi (IEC 62129-3:2019)Standarts spēkā
59068LVS EN 61746-1:2011/AC:2015Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 1.daļa: OTDR vienmodu šķiedrāmStandarts spēkā
63264LVS EN 61745:2018Gala virsmas attēla analīzes procedūra optisko šķiedru ģeometrijas testēšanas iekārtu kalibrēšanai (IEC 61745:2017)Standarts spēkā
59069LVS EN 61746-2:2011/AC:2015Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2.daļa: OTDR daudzmodu šķiedrāmStandarts spēkā
72493LVS EN IEC 61744:2023Optisko šķiedru hromatiskās dispersijas testa iekārtu kalibrēšana (IEC 61744:2023)Standarts spēkā
56620LVS EN 62496-2-4:2013Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-4. daļa: Optiskās pārvades tests optiskajām shēmplatēm bez ieejas/izejas šķiedrām (IEC 62496-2-4:2013)Standarts spēkā
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 76 ieraksta(-iem).