CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 63264 | LVS EN 61745:2018 | Gala virsmas attēla analīzes procedūra optisko šķiedru ģeometrijas testēšanas iekārtu kalibrēšanai (IEC 61745:2017) | Standarts spēkā |
| 59069 | LVS EN 61746-2:2011/AC:2015 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2.daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām | Standarts spēkā |
| 72493 | LVS EN IEC 61744:2023 | Optisko šķiedru hromatiskās dispersijas testa iekārtu kalibrēšana (IEC 61744:2023) | Standarts spēkā |
| 75982 | EN IEC 62522:2024 | Etalonnage des sources laser accordables | Standarts spēkā |
| 45306 | EN 62496-3:2011 | Cartes à circuits optiques - Partie 3: Normes de performance - Généralités et guide | Standarts spēkā |
| 54553 | EN 62129-2:2011 | Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 2: Michelson interferometer single wavelength meters | Standarts spēkā |
| 53669 | EN 62522:2014 | Étalonnage des sources laser accordables | Standarts spēkā |
| 56620 | LVS EN 62496-2-4:2013 | Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-4. daļa: Optiskās pārvades tests optiskajām shēmplatēm bez ieejas/izejas šķiedrām (IEC 62496-2-4:2013) | Standarts spēkā |
| 56620 | EN 62496-2-4:2013 | Cartes à circuits optiques - Procédures fondamentales d'essais et de mesures - Partie 2-4: Essai de transmission optique des cartes à circuits optiques sans fibres d'entrée/sortie | Standarts spēkā |
| 68959 | LVS EN IEC 62496-2-5:2023 | Optiskās drukātās shēmas plates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-5.daļa: Lokanu optoelektrisku shēmu lieces pārbaude (IEC 62496-2-5:2022) | Standarts spēkā |
Attēlo no 61. līdz 70. no pavisam 76 ieraksta(-iem).