CLC/SR 47A
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 49002 | LVS EN 62215-3:2014 | Integrētās shēmas. Impulsveida traucējumnoturības mērīšana. 3. daļa: Nesinhronās inžekcijas metode pārejas režīmā (IEC 62215-3:2013) | Standarts spēkā |
| 49002 | EN 62215-3:2013 | Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method | Standarts spēkā |
| 48802 | EN 190111 | Blank Detail Specification: MOS read/write static memories silicon monolithic circuits | Izstrādē |
| 48755 | LVS EN 62132-5:2006 | Integrālās shēmas. Elektromagnētiskā traucējumneuzņēmīguma mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 5.daļa: Faradeja būra stendmetode | Standarts spēkā |
| 48755 | EN 62132-5:2006 | Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Verfahren mit Faradayschem Arbeitskäfig | Standarts spēkā |
| 48617 | LVS EN 61967-2:2006 | Integrētās shēmas. 150 kHz līdz 1 GHz elektromagnētisko emisiju mērīšana. 2.daļa: Starojumemisiju mērīšana. TEM šūnu un platjoslas TEM šūnu metode | Standarts spēkā |
| 48617 | EN 61967-2:2005 | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method | Standarts spēkā |
| 48017 | LVS EN 190107:2002 | Virsspecifikācija: TTL FAST digitālās integrētās shēmas - 54.F, 74.F sērija | Standarts spēkā |
| 48017 | EN 190107:1994 | Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL FAST - Sériese 54F, 74F | Atcelts |
| 48005 | LVS EN 190108:2002 | Virsspecifikācija: Uzlabotas TTL Šotkija digitālās integrētās shēmas - 54.AS, 74.AS sērija | Standarts spēkā |
Attēlo no 91. līdz 100. no pavisam 127 ieraksta(-iem).