Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
46944LVS EN 190110:2002Neaizpildīta detālspecifikācija: Digitālās integrētās mikroprocesorshēmasStandarts spēkā
68806EN IEC 61967-4:2021Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 Ω/150 ΩStandarts spēkā
50720LVS EN 190102:2002Virsspecifikācija: TTL Šotkija digitālās integrētās shēmas - 54.S, 64.S, 74.S, 84.S sērijaStandarts spēkā
68748EN IEC 62228-5:2021Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 5: Ethernet transceiversStandarts spēkā
60855LVS EN 62433-2:2017Integrēto shēmu EMS modelēšana. 2.daļa: Integrēto shēmu modeļi elektromagnētisko traucējumu iedarbības modelēšanai. Konduktīvās emisijas modelēšana (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2017)Standarts spēkā
49002EN 62215-3:2013Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection methodStandarts spēkā
60856LVS EN 62433-3:2017Integrēto shēmu EMS modelēšana. 3.daļa: Integrēto shēmu modeļi elektromagnētisko traucējumu iedarbības modelēšanai. Izstarotās emisijas modelēšana (ICEM-RE) (IEC 62433-3:2017)Standarts spēkā
60115LVS EN 62433-4:2017Integrēto shēmu EMS modelēšana. 4.daļa: Integrēto shēmu modeļi elektromagnētisko traucējumu iedarbības modelēšanai. Konduktīvās traucējumnoturības modelēšana (ICIM-CI) (IEC 62433-4:2016)Standarts spēkā
53344LVS EN 61943:2003Integrētās shēmas - Ražošanas līniju aprobēšanas instrukcijaStandarts spēkā
65185EN IEC 62433-6:2020Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 6: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement d'immunité aux impulsions - Modélisation de l'immunité aux impulsions conduites (ICIM-CPI)Standarts spēkā
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 127 ieraksta(-iem).