CEN/TC 290
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
14410 | LVS ENV 13005:2002 A | Norādījumi mērījumu nenoteiktības izpausmei | Atcelts |
31931 | LVS EN ISO 11562:2002 /AC:2009 | Ģeometrisko produktu specifikācijas. Virsmas struktūra. Profila metode. Fāzes korekcijas filtru metroloģiskais raksturojums (ISO 11562:1996/Cor 1:1998) | Atcelts |
14395 | LVS EN ISO 11562:2002 | Ģeometrisko produktu specifikācijas - Virsmas struktūra - Profila metode - Fāzes korekcijas filtru metroloģiskais raksturojums | Atcelts |
14433 | LVS EN ISO 10360-5:2002 | Produktu ģeometriskās specifikācijas - Koordinātu mērīšanas mašīnu (KMM) pieņemšanas un reverifikācijas testi - 5.daļa: Koordinātu mērīšanas iekārtas ar daudztaustu sistēmām | Atcelts |
14430 | LVS ENV ISO 14253-2:2002 | Ģeometrisko produktu specifikācijas - Sagatavju un mēriekārtu mērīšanas pārbaude - Norādījumi ģeometrisko produktu mērījumu nenoteiktības novērtēšanā, mēriekārtu kalibrēšanā un produktu verifikācijā | Atcelts |
14394 | LVS EN ISO 10360-4:2002 | Produktu ģeometriskās specifikācijas - Koordinātu mērīšanas mašīnu (KMM) pieņemšanas un reverifikācijas testi - 4.daļa: Koordinātu mērīšanas iekārtu pielietošana skenēšanas procesā | Atcelts |
14380 | LVS EN ISO 1660:2002 | Tehniskie rasējumi - Izmēru un pielaižu norāde profiliem | Atcelts |
14457 | LVS EN ISO 5436-2:2002 | Produktu ģeometriskās specifikācijas - Virsmas tekstūra: Profila metode - Mērīšanas standarti - 2.daļa: Programmatūras mērīšanas standarti | Atcelts |
14406 | EN ISO 5436-1:2000 | Spécification géométrique des produits (GPS) - Etat de surface: Méthode du profil; Etalons - Partie 1: Mesures matérialisées (ISO 5436-1:2000) | Izstrādē |
14399 | ISO/CD 12181-3 | Geometrical Product Specification (GPS) - Roundness - Part 3: Instruments for the assessment of deviation from roundness - Measurement of variations in radius | Izstrādē |
Attēlo no 301. līdz 310. no pavisam 457 ieraksta(-iem).