ASD-STAN
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 17482 | LVS EN 2082-1/A1:2000 | Aviācijas un kosmosa sērija - Leģēta alumīnija izejmateriāls kalšanai un kalumi - Tehniskā specifikācija - 1.daļa: Vispārīgās prasības | Atcelts |
| 17483 | EN 2591-101:1994 | Luft- und Raumfahrt - Elektrische und optische Verbindungselemente - Prüfverfahren - Teil 101: Sichtprüfung | Izstrādē |
| 17483 | LVS EN 2591-101:2000 | Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 101.daļa: Vizuālā pārbaude | Standarts spēkā |
| 17484 | EN 2591-102:1996 | Luft- und Raumfahrt - Elektrische und optische Verbindungselemente - Prüfverfahren - Teil A2: Prüfung der Maße und Masse | Izstrādē |
| 17484 | LVS EN 2591-102:2000 | Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 102.daļa: Izmēru un masas pārbaude | Standarts spēkā |
| 17485 | EN 2591-202:1996 | Luft- und Raumfahrt - Elektrische und optische Verbindungselemente - Prüfverfahren - Teil B2: Kontaktwiderstand bei Nennstrom | Izstrādē |
| 17485 | LVS EN 2591-202:2000 | Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 202.daļa: Kontaktu pretestība pie projektētās strāvas | Standarts spēkā |
| 17486 | EN 2591-203:1996 | Luft- und Raumfahrt - Elektrische und optische Verbindungselemente - Prüfverfahren - Teil B3: Kontinuierlicher Stromdurchgang im Mikrovoltbereich | Izstrādē |
| 17486 | LVS EN 2591-203:2000 | Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 203.daļa: Elektronepārtrauktība pie mikrovoltu līmeņa | Standarts spēkā |
| 17487 | EN 2591-204:1996 | Luft- und Raumfahrt - Elektrische und optische Verbindungselemente - Prüfverfahren - Teil B4: Kontaktunterbrechung im Mikrosekundenbereich | Izstrādē |
Attēlo no 1751. līdz 1760. no pavisam 7068 ieraksta(-iem).