Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
80308ISO/TS 4767:2024Plastics — Method of exposure to electrodeless plasma radiation sourcesStandarts spēkā
81635ISO 4892-2:2013/Amd 1:2021Plastiques — Méthodes d'exposition à des sources lumineuses de laboratoire — Partie 2: Lampes à arc au xénon — Amendement 1: Classification des filtres de la lumière du jourStandarts spēkā
80307ISO 4765:2022Chemically-induced ultra-weak photon emission (UPE) — Measurement as an analysis method of degradation of polymeric materialStandarts spēkā
Attēlo no 1. līdz 3. no pavisam 3 ieraksta(-iem).