ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 18088 | ISO 10110-1:1996 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 1: General | Atcelts |
| 34625 | ISO 10110-10:2004 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 10: Tableau représentant les données d'éléments optiques et d'assemblages collés | Atcelts |
| 18092 | ISO 10110-6:1996 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage | Atcelts |
| 40747 | ISO 10109-8:2005 | Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 8: Exigences d'essai pour conditions d'utilisation extrêmes | Atcelts |
| 55747 | ISO 14997:2011 | Optics and photonics — Test methods for surface imperfections of optical elements | Atcelts |
| 44594 | ISO 9334:2007 | Optics and photonics — Optical transfer function — Definitions and mathematical relationships | Atcelts |
| 18087 | ISO 10109-8:1994 | Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 8: Spécifications d'essai pour conditions d'utilisation extrêmes | Atcelts |
| 22463 | ISO 11421:1997 | Optique et instruments d'optique — Exactitude du mesurage de la fonction de transfert optique (OTF) | Atcelts |
| 21004 | ISO 10110-4:1997 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 4: Imperfections des matériaux — Hétérogénéités et stries | Atcelts |
| 72598 | ISO 15368:2021 | Optique et photonique — Mesurage du facteur de réflexion des surfaces planes et du facteur de transmission des éléments à plan parallèle | Atcelts |
Attēlo no 91. līdz 100. no pavisam 210 ieraksta(-iem).