ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 72648 | ISO/PWI 22132 | Titre manque | Izstrādē |
| 74935 | ISO/PWI 9022-3 | Optique et photonique Mthodes d'essais d'environnement | Izstrādē |
| 91194 | ISO/DIS 10110-9 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 9: Traitement de surface et revêtement | Izstrādē |
| 65267 | ISO/CD 10110-17 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser | Izstrādē |
| 26916 | ISO/WD 10109-5 | Optique et instruments d'optique — Prescriptions d'environnement — Partie 5: Essais appropriés aux microscopes | Izstrādē |
| 13962 | ISO/CD 7300 | Photographie — Objectifs photographiques — Détermination de la distorsion de l'image | Izstrādē |
| 91195 | ISO/PWI 10110-18 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 18: Biréfringence sous contrainte, bulles et inclusions, homogénéité, et stries | Izstrādē |
| 35992 | ISO/WD 10110-2 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 2: Imperfections des matériaux — Biréfringence sous contrainte | Izstrādē |
| 42838 | ISO/CD 25297 | Optique et photonique — Normes fondamentales — Transfert éléctronique des données optiques | Izstrādē |
| 44701 | ISO/WD 14999-5 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 5: Méthodes d'essai pour la détermination de la forme de suface ou du front d'onde des composants et systèmes optiques par moyen interférométrique | Izstrādē |
Attēlo no 1. līdz 10. no pavisam 210 ieraksta(-iem).