ISO/TC 172/SC 1
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
44794 | ISO 517:1996/Cor 1:2006 | Photographie — Ouvertures et grandeurs associées relatives aux objectifs photographiques — Désignations et mesurages — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
46553 | ISO 10110-8:2010 | Optika un optiskās ierīces. Rasējumu sagatavošana optikas elementiem un sistēmām. 8. daļa: Virsmas struktūra, raupjums un viļņainums | Atcelts |
46553 | ISO 10110-8:2010 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface; rugosité et ondulation | Atcelts |
46570 | ISO 25297-1:2010 | Optique et photonique — Transfert électronique des données optiques — Partie 1: Modèle de données NODIF | Atcelts |
46571 | ISO 25297-2:2011 | Optics and photonics — Electronic exchange of optical data — Part 2: Mapping to the classes and properties defined in ISO 23584 | Standarts spēkā |
50027 | ISO 15795:2002/Cor 1:2007 | Optique et instrument d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiques — Rectificatif technique 1 | Standarts spēkā |
50089 | ISO 517:2008 | Photography — Apertures and related properties pertaining to photographic lenses — Designations and measurements | Standarts spēkā |
50090 | ISO 9039:2008 | Optique et photonique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Détermination de la distorsion | Standarts spēkā |
54927 | ISO 9336-1:2010 | Optics and photonics — Optical transfer function — Application — Part 1: Interchangeable lenses for 35 mm still cameras | Standarts spēkā |
55747 | ISO 14997:2011 | Optics and photonics — Test methods for surface imperfections of optical elements | Atcelts |
Attēlo no 131. līdz 140. no pavisam 208 ieraksta(-iem).