ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 30924 | ISO 10110-17:2004 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser | Standarts spēkā |
| 39934 | ISO/TR 14999-3:2005 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 3: Calibration and validation of interferometric test equipment and measurements | Standarts spēkā |
| 17042 | ISO 9358:1994 | Optique et instruments d'optique — Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie — Définitions et méthodes de mesure | Standarts spēkā |
| 66490 | ISO 9022-4:2014 | Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin | Standarts spēkā |
| 57570 | ISO/TR 16743:2013 | Optique et photonique — Capteurs de front d'onde pour caractérisation des systèmes optiques et des composants optiques | Standarts spēkā |
| 39932 | ISO/TR 14999-1:2005 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 1: Termes, définitions et relations fondamentales | Standarts spēkā |
| 72599 | ISO 8478:2017 | Optique et photonique — Objectifs photographiques — Mesurage du facteur spectral de transmission ISO | Standarts spēkā |
| 65444 | ISO 10110-7:2017 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Imperfections de surface | Standarts spēkā |
Attēlo no 201. līdz 208. no pavisam 208 ieraksta(-iem).