ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 20420 | ISO/WD 11871 | Fichiers pour transfert des données optiques | Izstrādē |
| 21004 | ISO 10110-4:1997 | Optika un optiskās ierīces - Rasējumu sagatavošana optikas elementiem un sistēmām - 4.daļa: Materiālu defekti - Nevienādība un svītras | Atcelts |
| 21004 | ISO 10110-4:1997 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 4: Imperfections des matériaux — Hétérogénéités et stries | Atcelts |
| 21005 | ISO 10110-8:1997 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface | Atcelts |
| 21005 | ISO 10110-8:1997 | Optika un optiskās ierīces - Rasējumu sagatavošana optikas elementiem un sistēmām - 8.daļa: Virsmas struktūra | Atcelts |
| 21006 | ISO 10110-12:1997 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques | Atcelts |
| 21006 | ISO 10110-12:1997 | Optika un optiskās ierīces - Rasējumu sagatavošana optiskiem elementiem un sistēmām - 12.daļa: Asfēriskas virsmas | Atcelts |
| 21007 | ISO 10110-13:1997 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 13: Laser irradiation damage threshold | Atcelts |
| 21140 | ISO/WD 13717 | Interferometers — Fundamental terminology | Izstrādē |
| 21217 | ISO 13653:1996 | Optique et instruments d'optique — Méthodes générales d'essai optique — Méthode de mesurage de l'éclairement énergétique relatif dans le champ image | Atcelts |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 210 ieraksta(-iem).