ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 20617 | ISO 11807-1:2001 | Integrated optics — Vocabulary — Part 1: Basic terms and symbols | Atcelts |
| 33625 | ISO 11146-1:2005 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, angles de divergence et facteurs de limite de diffraction — Partie 1: Faisceaux stigmatiques et astigmatiques simples | Atcelts |
| 37045 | ISO 24013:2006 | Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux lasers — Mesurage du retard de phase des composants optiques pour le rayonnement laser polarisé | Atcelts |
| 21142 | ISO 11254-2:2001 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques — Partie 2: Essai S sur 1 | Atcelts |
| 2527 | ISO 11149:1997 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Connecteurs pour fibres optiques pour les applications laser autres que télécommunication | Atcelts |
| 20633 | ISO 12005:1999 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres des faisceaux laser — Polarisation | Atcelts |
| 70725 | ISO/WD 21254-1 | Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser-induced damage threshold — Part 1: Definitions and general principles | Izstrādē |
| 90411 | ISO/PWI 25440 | Optics and photonics — Measurement method of propagation loss in passive optical waveguides and components | Izstrādē |
| 90410 | ISO/AWI 14880-1 | Optics and photonics — Microlens arrays — Part 1: Vocabulary | Izstrādē |
| 40767 | ISO 11554:2003/NP Amd 1 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai de la puissance et de l'énergie des faisceaux lasers et de leurs caractéristiques temporelles — Amendement 1 | Izstrādē |
Attēlo no 101. līdz 110. no pavisam 146 ieraksta(-iem).