ISO/TC 172/SC 9

Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
45523ISO/TR 14880-5:2010Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 5: Lignes directrices pour essaiStandarts spēkā
40510ISO 11670:2003/Cor 1:2004Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres du faisceau laser — Stabilité de visée du faisceau — Rectificatif technique 1Standarts spēkā
69228ISO 11551:2019Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthode d'essai du facteur d'absorption des composants optiques pour lasersStandarts spēkā
41919ISO/TR 11146-3:2004/Cor 1:2005Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, des angles de divergence et des facteurs de limite de diffraction — Partie 3: Classification intrinsèque et géométrique du faisceau laser, propagation et détails des méthodes d'essai — Rectificatif technique 1Standarts spēkā
35053ISO/TR 22588:2005Optique et instruments d'optique — Lasers et équipement associé aux lasers — Mesurage et évaluation de la déformation et de la distorsion des composants optiques dans un faisceau laserStandarts spēkā
83940ISO 14880-2:2024Optics and photonics — Microlens arrays — Part 2: Test methods for wavefront aberrationsStandarts spēkā
33627ISO/TR 11146-3:2004Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam widths, divergence angles and beam propagation ratios — Part 3: Intrinsic and geometrical laser beam classification, propagation and details of test methodsStandarts spēkā
31690ISO 11670:2003Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam parameters — Beam positional stabilityStandarts spēkā
72946ISO 17915:2018Optique et photonique — Méthode de mesure des lasers semi-conducteurs pour la sensibilitéStandarts spēkā
60946ISO 17901-1:2015Optique et photonique — Holographie — Partie 1: Méthodes de mesurage de l'efficacité de diffraction et caractéristiques optiques associées aux hologrammesStandarts spēkā
Attēlo no 1. līdz 10. no pavisam 151 ieraksta(-iem).