ISO/TC 172/SC 9
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
90410 | ISO/CD 14880-1 | Optics and photonics — Microlens arrays — Part 1: Vocabulary | Izstrādē |
89696 | ISO/WD 13682-1 | Laser et équipement laser associé — Détermination des propriétés des pulsations laser ultra-courtes — Partie 1: Vocabulaire et symboles | Izstrādē |
70724 | ISO/WD 21254-2 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 2: Détermination du seuil | Izstrādē |
90411 | ISO/PWI 25440 | Optics and photonics — Measurement method of propagation loss in passive optical waveguides and components | Izstrādē |
22265 | ISO/CD 13695 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipement associé aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres du faisceau laser: Caractéristiques spectrales | Izstrādē |
83938 | ISO/PWI 21254-2.2 | Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser-induced damage threshold — Part 2: Threshold determination | Izstrādē |
33630 | ISO/WD 15367-3 | Lasers and laser related equipment — Test methods for determination of the shape of a laser beam wavefront — Part 3: Interferometric measurements | Izstrādē |
31689 | ISO/WD 11146 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres des faisceaux laser — Largeurs du faisceau, angle de divergence et facteur de propagation du faisceau | Izstrādē |
77723 | ISO/PWI 21254-2 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 2: Détermination du seuil | Izstrādē |
54282 | ISO/NP 13682-2 | Lasers and laser-related equipment - Determination of the properties of ultrashort laser pulses - Part2: Autocorrelation measurement method — Part 2: | Izstrādē |
Attēlo no 131. līdz 140. no pavisam 146 ieraksta(-iem).