ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 77723 | ISO/PWI 21254-2 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 2: Détermination du seuil | Izstrādē |
| 89696 | ISO/AWI 13682-1 | Laser et équipement laser associé — Détermination des propriétés des pulsations laser ultra-courtes — Partie 1: Vocabulaire et symboles | Izstrādē |
| 31689 | ISO/WD 11146 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres des faisceaux laser — Largeurs du faisceau, angle de divergence et facteur de propagation du faisceau | Izstrādē |
| 54282 | ISO/NP 13682-2 | Lasers and laser-related equipment - Determination of the properties of ultrashort laser pulses - Part2: Autocorrelation measurement method — Part 2: | Izstrādē |
| 89697 | ISO/AWI 13682-2 | Laser et équipement laser associé — Détermination des propriétés des pulsations laser ultra-courtes — Partie 2: Méthode de mesure d'autocorrélation | Izstrādē |
| 77721 | ISO/PWI 21254-1 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser — Partie 1: Définitions et principes de base | Izstrādē |
Attēlo no 141. līdz 146. no pavisam 146 ieraksta(-iem).