ISO/TC 172/SC 9

Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
60946ISO 17901-1:2015Optique et photonique — Holographie — Partie 1: Méthodes de mesurage de l'efficacité de diffraction et caractéristiques optiques associées aux hologrammesStandarts spēkā
67658ISO 11553-1:2020Sécurité des machines — Machines à laser — Partie 1: Exigences de sécurité laserStandarts spēkā
41919ISO/TR 11146-3:2004/Cor 1:2005Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, des angles de divergence et des facteurs de limite de diffraction — Partie 3: Classification intrinsèque et géométrique du faisceau laser, propagation et détails des méthodes d'essai — Rectificatif technique 1Standarts spēkā
31690ISO 11670:2003Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam parameters — Beam positional stabilityStandarts spēkā
83940ISO 14880-2:2024Optics and photonics — Microlens arrays — Part 2: Test methods for wavefront aberrationsStandarts spēkā
72946ISO 17915:2018Optique et photonique — Méthode de mesure des lasers semi-conducteurs pour la sensibilitéStandarts spēkā
45523ISO/TR 14880-5:2010Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 5: Lignes directrices pour essaiStandarts spēkā
40510ISO 11670:2003/Cor 1:2004Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres du faisceau laser — Stabilité de visée du faisceau — Rectificatif technique 1Standarts spēkā
72947ISO 14880-1:2019Optics and photonics — Microlens arrays — Part 1: VocabularyStandarts spēkā
45011ISO 11553-3:2013Sécurité des machines — Machines à laser — Partie 3: Méthodes de mesure et de réduction du bruit des machines à laser, des dispositifs de traitement portatifs et des équipements auxiliaires connexes (classe de précision 2)Standarts spēkā
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 151 ieraksta(-iem).