ISO/TC 172/SC 9

Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
35649ISO 17526:2003Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Durée de vie des lasersStandarts spēkā
36641ISO 14880-3:2006Optics and photonics — Microlens arrays — Part 3: Test methods for optical properties other than wavefront aberrationsAtcelts
36642ISO 14880-4:2006Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 4: Méthodes d'essai pour les propriétés géométriquesAtcelts
37045ISO 24013:2006Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux lasers — Mesurage du retard de phase des composants optiques pour le rayonnement laser polariséAtcelts
37587ISO 11810-1:2005Lasers et équipements associés aux lasers — Méthode d'essai et classification de la résistance au laser pour des draps chirurgicaux et/ou des couvertures de protection des patients — Partie 1: Inflammation primaire et pénétrationAtcelts
37588ISO 11810-2:2007Lasers et équipements associés aux lasers — Méthode d'essai et classification de la résistance au laser pour des draps chirurgicaux et/ou des couvertures de protection des patients — Partie 2: Inflammation secondaireAtcelts
37590ISO 11553-2:2007Safety of machinery — Laser processing machines — Part 2: Safety requirements for hand-held laser processing devicesStandarts spēkā
38483ISO 13697:2006Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai du facteur de réflexion spéculaire et du facteur de transmission des composants optiques laserAtcelts
38893ISO 14880-1:2001/Cor 1:2003Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 1Atcelts
40510ISO 11670:2003/Cor 1:2004Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres du faisceau laser — Stabilité de visée du faisceau — Rectificatif technique 1Standarts spēkā
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 146 ieraksta(-iem).