ISO/TC 172/SC 9
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
40917 | ISO 11554:2006 | Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam power, energy and temporal characteristics | Atcelts |
2476 | ISO 11145:1994 | Optics and optical instruments — Lasers and laser-related equipment — Vocabulary and symbols | Atcelts |
53362 | ISO 13142:2015 | Systèmes électro-optiques — Technique d'alternance de la cavité pour le mesurage du facteur de réflexion | Atcelts |
30654 | ISO 11553-1:2005 | Safety of machinery — Laser processing machines — Part 1: General safety requirements | Atcelts |
33625 | ISO 11146-1:2005 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, angles de divergence et facteurs de limite de diffraction — Partie 1: Faisceaux stigmatiques et astigmatiques simples | Atcelts |
42724 | ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 2 | Atcelts |
41097 | ISO 11254-3:2006 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques — Partie 3: Vérification de la capacité à supporter la puissance (l'énergie) laser | Atcelts |
19230 | ISO 11252:1993 | Lasers et équipements associés aux lasers — Source laser — Exigences minimales pour la documentation | Atcelts |
21142 | ISO 11254-2:2001 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques — Partie 2: Essai S sur 1 | Atcelts |
38893 | ISO 14880-1:2001/Cor 1:2003 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 146 ieraksta(-iem).