ISO/TC 172/SC 9
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 19594 | ISO 11670:1999 | Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des paramètres des faisceaux laser — Stabilité de visée du faisceau | Atcelts |
| 2476 | ISO 11145:1994 | Optics and optical instruments — Lasers and laser-related equipment — Vocabulary and symbols | Atcelts |
| 40917 | ISO 11554:2006 | Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam power, energy and temporal characteristics | Atcelts |
| 30654 | ISO 11553-1:2005 | Sécurité des machines — Machines à laser — Partie 1: Prescriptions générales de sécurité | Atcelts |
| 42724 | ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 1: Vocabulaire — Rectificatif technique 2 | Atcelts |
| 19230 | ISO 11252:1993 | Lasers et équipements associés aux lasers — Source laser — Exigences minimales pour la documentation | Atcelts |
| 19232 | ISO 11254-1:2000 | Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques — Partie 1: Essai 1 sur 1 | Atcelts |
| 19507 | ISO 11553:1996 | Sécurité des machines — Machines à laser — Prescriptions de sécurité | Atcelts |
| 43168 | ISO 13694:2000/Cor 1:2005 | Optique et instruments d'optique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai de distribution de la densité de puissance (d'énergie) du faisceau laser — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
| 36642 | ISO 14880-4:2006 | Optique et photonique — Réseaux de microlentilles — Partie 4: Méthodes d'essai pour les propriétés géométriques | Atcelts |
Attēlo no 71. līdz 80. no pavisam 151 ieraksta(-iem).