ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 45399 | ISO 29301:2010 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique en transmission analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques | Atcelts |
| 70360 | ISO 29301:2017 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Atcelts |
| 86942 | ISO 29301:2023 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Standarts spēkā |
| 95442 | ISO/AWI 23420 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la résolution énergétique pour l'analyse spectrale de la perte d'énergie des électrons | Izstrādē |
| 91666 | ISO/AWI 25835 | Titre manque | Izstrādē |
| 84289 | ISO/CD 13139 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals | Izstrādē |
| 32939 | ISO/CD 17270 | Microscopie électronique analytique — Méthode d'essai pour déterminer des paramètres expérimentaux pour la spectroscopie de perte d'énergie d'électron (EELS) | Izstrādē |
| 91808 | ISO/CD 25871 | Microbeam analysis --Analytical electron microscopy — Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction | Izstrādē |
| 92612 | ISO/CD 26100 | Titre manque | Izstrādē |
| 84838 | ISO/FDIS 16887 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Guidelines for transmission electron microscopy specimen preparation by lift-out method using focused ion beam system | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 26 ieraksta(-iem).