ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 70360 | ISO 29301:2017 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Atcelts |
| 75516 | ISO 23420:2021 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la résolution énergétique pour l'analyse spectrale de la perte d'énergie des électrons | Standarts spēkā |
| 79091 | ISO 24639:2022 | Analyse par microfaisceaux — Microscope électronique analytique — Procédure d'étalonnage de l'échelle d'énergie pour l'analyse élémentaire par spectroscopie de perte d'énergie des électrons | Standarts spēkā |
| 84289 | ISO/WD 13139 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals | Izstrādē |
| 84838 | ISO/DIS 16887 | Titre manque | Izstrādē |
| 86203 | ISO 19214:2024 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopy | Standarts spēkā |
| 86942 | ISO 29301:2023 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Standarts spēkā |
| 87682 | ISO 20263:2024 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials | Standarts spēkā |
| 87733 | ISO 25498:2025 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Standarts spēkā |
| 90097 | ISO/PWI 25386 | Microbeam Analysis-Analytical Electron Microscopy-The main performance parameters and design specifications of the TEM standard grid | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 25 ieraksta(-iem).