ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 60576 | ISO/WD 17802 | Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods of the energy calibration for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
| 92612 | ISO/CD 26100 | Titre manque | Izstrādē |
| 42950 | ISO/NP 25497 | Guidelines for the determination of experimental parameters for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
| 91667 | ISO/PWI 25836 | Titre manque | Izstrādē |
| 90097 | ISO/PWI 25386 | Microbeam Analysis-Analytical Electron Microscopy-The main performance parameters and design specifications of the TEM standard grid | Izstrādē |
Attēlo no 21. līdz 25. no pavisam 25 ieraksta(-iem).