Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
84289ISO/WD 13139Titre manqueIzstrādē
86203ISO 19214:2024Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopyIzstrādē
84838ISO/CD 16887Titre manqueIzstrādē
42950ISO/NP 25497Guidelines for the determination of experimental parameters for electron energy loss spectroscopyIzstrādē
Attēlo no 21. līdz 24. no pavisam 24 ieraksta(-iem).