ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 42950 | ISO/NP 25497 | Guidelines for the determination of experimental parameters for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
| 60576 | ISO/WD 17802 | Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods of the energy calibration for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
| 32939 | ISO/CD 17270 | Microscopie électronique analytique — Méthode d'essai pour déterminer des paramètres expérimentaux pour la spectroscopie de perte d'énergie d'électron (EELS) | Izstrādē |
| 90097 | ISO/NP 25386.2 | Microbeam Analysis-Analytical Electron Microscopy-Vocabulary used in TEM grids and supporting films | Izstrādē |
| 91667 | ISO/PWI 25836 | Titre manque | Izstrādē |
| 84838 | ISO/FDIS 16887 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Guidelines for transmission electron microscopy specimen preparation by lift-out method using focused ion beam system | Izstrādē |
Attēlo no 21. līdz 26. no pavisam 26 ieraksta(-iem).