ISO/TC 202/SC 3
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
84289 | ISO/WD 13139 | Titre manque | Izstrādē |
86203 | ISO 19214:2024 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopy | Izstrādē |
84838 | ISO/CD 16887 | Titre manque | Izstrādē |
42950 | ISO/NP 25497 | Guidelines for the determination of experimental parameters for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
Attēlo no 21. līdz 24. no pavisam 24 ieraksta(-iem).