Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
56520EN 62007-1:2000Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 1: Valeurs limites et caractéristiques essentiellesAtcelts
56520LVS EN 62007-1:2002Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 1.daļa: Būtiskie robežlielumi un raksturojumiAtcelts
56620EN 62496-2-4:2013Cartes à circuits optiques - Procédures fondamentales d'essais et de mesures - Partie 2-4: Essai de transmission optique des cartes à circuits optiques sans fibres d'entrée/sortieStandarts spēkā
56620LVS EN 62496-2-4:2013Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-4. daļa: Optiskās pārvades tests optiskajām shēmplatēm bez ieejas/izejas šķiedrām (IEC 62496-2-4:2013)Standarts spēkā
57020prEN 62129Calibration of optical spectrum analyzersIzstrādē
58304EN 61746-2:2011Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 2: OTDR für MehrmodenfasernIzstrādē
58304LVS EN 61746-2:2011Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2. daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām (IEC 61746-2:2010)Standarts spēkā
59068EN 61746-1:2011/AC:2014Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 1: OTDR für EinmodenfasernIzstrādē
59068LVS EN 61746-1:2011/AC:2015Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 1.daļa: OTDR vienmodu šķiedrāmStandarts spēkā
59069EN 61746-2:2011/AC:2014Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 2: OTDR für MehrmodenfasernIzstrādē
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 76 ieraksta(-iem).