CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 59069 | LVS EN 61746-2:2011/AC:2015 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2.daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām | Standarts spēkā |
| 60111 | EN 62129-1:2016 | Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 1: Optical spectrum analyzers | Izstrādē |
| 60111 | LVS EN 62129-1:2016 | Viļņa garuma/optiskās frekvences mērinstrumentu kalibrēšana. 1.daļa: Optiskā spektra analizatori (IEC 62129-1:2016) | Standarts spēkā |
| 62702 | EN IEC 61315:2019 | Kalibrierung von Lichtwellenleiter-Leistungsmessgeräten | Izstrādē |
| 62702 | LVS EN IEC 61315:2019 | Optisko šķiedru iekārtu jaudas mērītāju kalibrēšana (IEC 61315:2019) | Standarts spēkā |
| 62742 | EN 62496-2:2017 | Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2: General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics of optical circuit boards | Izstrādē |
| 62742 | LVS EN 62496-2:2017 | Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2.daļa: Optisko shēmplašu optisko raksturlielumu mērīšanas nosacījumu noteikšanas vispārīgie norādījumi (IEC 62496-2:2017) | Standarts spēkā |
| 63264 | EN 61745:2017 | Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern | Izstrādē |
| 63264 | LVS EN 61745:2018 | Gala virsmas attēla analīzes procedūra optisko šķiedru ģeometrijas testēšanas iekārtu kalibrēšanai (IEC 61745:2017) | Standarts spēkā |
| 63265 | EN IEC 62129-3:2019 | Étalonnage des appareils de mesure de longueur d'onde/appareil de mesure de la fréquence optique - Partie 3: Fréquencemètres optiques faisant référence en interne à un peigne de fréquence | Izstrādē |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 76 ieraksta(-iem).