Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
48617EN 61967-2:2005Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell methodStandarts spēkā
48617LVS EN 61967-2:2006Integrētās shēmas. 150 kHz līdz 1 GHz elektromagnētisko emisiju mērīšana. 2.daļa: Starojumemisiju mērīšana. TEM šūnu un platjoslas TEM šūnu metodeStandarts spēkā
48755EN 62132-5:2006Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Verfahren mit Faradayschem ArbeitskäfigStandarts spēkā
48755LVS EN 62132-5:2006Integrālās shēmas. Elektromagnētiskā traucējumneuzņēmīguma mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 5.daļa: Faradeja būra stendmetodeStandarts spēkā
48802EN 190111Blank Detail Specification: MOS read/write static memories silicon monolithic circuitsIzstrādē
49002EN 62215-3:2013Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection methodStandarts spēkā
49002LVS EN 62215-3:2014Integrētās shēmas. Impulsveida traucējumnoturības mērīšana. 3. daļa: Nesinhronās inžekcijas metode pārejas režīmā (IEC 62215-3:2013)Standarts spēkā
49357EN 163100:1991Rahmenspezifikation: Integrierte Hybrid- und SchichtschaltungenAtcelts
49357LVS EN 163100:2002Sekcijspecifikācija: Plēvjveida un hibrīdveida integrētās shēmasStandarts spēkā
50720EN 190102:1994Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky - Séries 54S, 64S, 74S, 84SAtcelts
Attēlo no 31. līdz 40. no pavisam 127 ieraksta(-iem).