CLC/SR 47A
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
48617 | EN 61967-2:2005 | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method | Standarts spēkā |
48617 | LVS EN 61967-2:2006 | Integrētās shēmas. 150 kHz līdz 1 GHz elektromagnētisko emisiju mērīšana. 2.daļa: Starojumemisiju mērīšana. TEM šūnu un platjoslas TEM šūnu metode | Standarts spēkā |
48755 | EN 62132-5:2006 | Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Verfahren mit Faradayschem Arbeitskäfig | Standarts spēkā |
48755 | LVS EN 62132-5:2006 | Integrālās shēmas. Elektromagnētiskā traucējumneuzņēmīguma mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 5.daļa: Faradeja būra stendmetode | Standarts spēkā |
48802 | EN 190111 | Blank Detail Specification: MOS read/write static memories silicon monolithic circuits | Izstrādē |
49002 | EN 62215-3:2013 | Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method | Standarts spēkā |
49002 | LVS EN 62215-3:2014 | Integrētās shēmas. Impulsveida traucējumnoturības mērīšana. 3. daļa: Nesinhronās inžekcijas metode pārejas režīmā (IEC 62215-3:2013) | Standarts spēkā |
49357 | EN 163100:1991 | Rahmenspezifikation: Integrierte Hybrid- und Schichtschaltungen | Atcelts |
49357 | LVS EN 163100:2002 | Sekcijspecifikācija: Plēvjveida un hibrīdveida integrētās shēmas | Standarts spēkā |
50720 | EN 190102:1994 | Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky - Séries 54S, 64S, 74S, 84S | Atcelts |
Attēlo no 31. līdz 40. no pavisam 127 ieraksta(-iem).