Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
48755EN 62132-5:2006Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Verfahren mit Faradayschem ArbeitskäfigStandarts spēkā
57960EN 62132-8:2012Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégréStandarts spēkā
49002EN 62215-3:2013Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection methodStandarts spēkā
60857EN 62228-2:2017Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 2: LIN transceiversStandarts spēkā
57426EN 62433-2:2010Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)Atcelts
60855EN 62433-2:2017EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE)Standarts spēkā
60856EN 62433-3:2017EMC IC modelling - Part 3: Models of Integrated Circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE)Standarts spēkā
60115EN 62433-4:2016EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI)Standarts spēkā
65254EN IEC 61967-1:2019Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitionsStandarts spēkā
68806EN IEC 61967-4:2021Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 Ω/150 ΩStandarts spēkā
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 127 ieraksta(-iem).