Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
57426EN 62433-2:2010Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)Atcelts
58235LVS ENV 190000-6:1993Fachgrundspezifikation: Monolithische integrierte Schaltungen - Anerkennungsverfahren und QualitätslenkungAtcelts
80696prEN IEC 62228-7:2025Circuits intégrés - évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 7: émetteurs-récepteurs CXPIAptauja slēgta
49002EN 62215-3:2013Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection methodStandarts spēkā
48617EN 61967-2:2005Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell methodStandarts spēkā
73569EN IEC 62228-6:2022Integrierte Schaltungen - EMV-Bewertung von Transceivern - Teil 6: PSI5-TransceiverStandarts spēkā
69908EN IEC 62228-7:2022Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten – Teil 7: CXPI-Sende-EmpfangsgeräteStandarts spēkā
47408EN 62132-4:2006Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RFStandarts spēkā
65185EN IEC 62433-6:2020Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 6: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement d'immunité aux impulsions - Modélisation de l'immunité aux impulsions conduites (ICIM-CPI)Standarts spēkā
44059EN 62132-1:2016Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 1: Conditions générales et définitionsStandarts spēkā
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 127 ieraksta(-iem).