Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
51697EN 190114Blank Detail Specification: Programmable logic arrays (PLA)Izstrādē
80329FprEN IEC 62132-8:2025Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-StreifenleiterverfahrenIzstrādē
63859prEN 63011-1:2017Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 1: TerminologyIzstrādē
41989EN 190112Blank Detail Specification: MOS read/write dynamic memories silicon monolithic circuitsIzstrādē
46921EN 190105Blank Detail Specification: Fusible link programmable bipolar read-only memories, silicon monolithic integrated circuitsIzstrādē
48802EN 190111Blank Detail Specification: MOS read/write static memories silicon monolithic circuitsIzstrādē
63860FprEN IEC 63011-3:2018Integrierte Schaltungen – Dreidimensionale integrierte Schaltungen - Teil 3: Modell und Messbedingungen für Silizium-DurchkontaktierungenIzstrādē
65253prEN 63011-2:2017Integrierte Schaltungen - Dreidimensionale integrierte Schaltungen - Teil 2: Ausrichtung stapelbarer Chips mit Feinraster-VerbindungenIzstrādē
81211prEN IEC 61967-1Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und DefinitionenIzstrādē
81210prEN IEC 62132-1Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitionsIzstrādē
Attēlo no 1. līdz 10. no pavisam 127 ieraksta(-iem).