CLC/SR 47A
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 41989 | EN 190112 | Blank Detail Specification: MOS read/write dynamic memories silicon monolithic circuits | Izstrādē |
| 42143 | EN 61967-5:2003 | Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Mesure des émissions conduites - Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail | Standarts spēkā |
| 42143 | LVS EN 61967-5:2003 | Integrētās shēmas - Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi - 5.daļa: Konduktīvā starojuma mērīšana - Faradeja būra stendmetode | Standarts spēkā |
| 42216 | LVS EN 62132-2:2011 | Integrētās shēmas. Elektromagnētiskās traucējumnoturības mērīšana. 2. daļa: Radiatīvās traucējumnoturības mērīšana. TEM šūnu un platjoslas TEM šūnu metode (IEC 62132-2:2010) | Standarts spēkā |
| 42216 | EN 62132-2:2011 | Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande | Standarts spēkā |
| 42841 | LVS EN 62132-1:2006 /AC:2007 | Integrētās shēmas. Noturības pret elektromagnētiskajiem traucējumiem mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 1.daļa: Vispārīgie noteikumi un definīcijas | Atcelts |
| 42841 | EN 62132-1:2006/corrigendum Nov. 2006 | Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe | Atcelts |
| 44059 | LVS EN 62132-1:2016 | Integrētās shēmas. Elektromagnētiskās noturības mērīšana. 1.daļa: Vispārīgie noteikumi un definīcijas (IEC 62132-1:2015) | Standarts spēkā |
| 44059 | EN 62132-1:2016 | Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 1: Conditions générales et définitions | Standarts spēkā |
| 44641 | EN 61967-1:2002 | Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions | Atcelts |
Attēlo no 1. līdz 10. no pavisam 127 ieraksta(-iem).