Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
49002EN 62215-3:2013Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection methodStandarts spēkā
72389EN IEC 62433-1:2019/AC:2020-07Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 1: Cadre de modèle généralStandarts spēkā
63677LVS EN IEC 62228-1:2018Integrētās shēmas. Raiduztvērēju EMS novērtējums. 1.daļa: Vispārīgi nosacījumi un definīcijas (IEC 62228-1:2018)Standarts spēkā
48755LVS EN 62132-5:2006Integrālās shēmas. Elektromagnētiskā traucējumneuzņēmīguma mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 5.daļa: Faradeja būra stendmetodeStandarts spēkā
44059LVS EN 62132-1:2016Integrētās shēmas. Elektromagnētiskās noturības mērīšana. 1.daļa: Vispārīgie noteikumi un definīcijas (IEC 62132-1:2015)Standarts spēkā
56891LVS EN 165000-2:2002Integrētās plēvjshēmas un hibrīdshēmas - 2.daļa: Iekšēja vizuālā pārbaude un speciāli testiStandarts spēkā
53672LVS EN 165000-1:2002Integrētās plēvjshēmas un hibrīdshēmas - 1.daļa: Vispārējā specifikācija - Ražotspējas aprobēšanas procedūraStandarts spēkā
45569LVS EN 165000-4:2002Integrētās plēvjshēmas un hibrīdshēmas - 4.daļa: Informācija klientiem, izstrādājumu novērtēšanas grafiki un neaizpildītas detālspecifikācijasStandarts spēkā
48017LVS EN 190107:2002Virsspecifikācija: TTL FAST digitālās integrētās shēmas - 54.F, 74.F sērijaStandarts spēkā
46944LVS EN 190110:2002Neaizpildīta detālspecifikācija: Digitālās integrētās mikroprocesorshēmasStandarts spēkā
Attēlo no 61. līdz 70. no pavisam 127 ieraksta(-iem).