Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
60856EN 62433-3:2017EMC IC modelling - Part 3: Models of Integrated Circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE)Standarts spēkā
60855EN 62433-2:2017EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE)Standarts spēkā
57426EN 62433-2:2010Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)Atcelts
60857EN 62228-2:2017Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 2: LIN transceiversStandarts spēkā
49002EN 62215-3:2013Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection methodStandarts spēkā
57960EN 62132-8:2012Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégréStandarts spēkā
48755EN 62132-5:2006Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Verfahren mit Faradayschem ArbeitskäfigStandarts spēkā
47408EN 62132-4:2006Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RFStandarts spēkā
56240EN 62132-3:2007Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) methodAtcelts
42216EN 62132-2:2011Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bandeStandarts spēkā
Attēlo no 81. līdz 90. no pavisam 127 ieraksta(-iem).