ISO/TC 202/SC 3

Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
32939ISO/CD 17270Microscopie électronique analytique — Méthode d'essai pour déterminer des paramètres expérimentaux pour la spectroscopie de perte d'énergie d'électron (EELS)Izstrādē
84289ISO/WD 13139Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metalsIzstrādē
86203ISO 19214:2024Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopyIzstrādē
67438ISO 20263:2017Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couchesAtcelts
70360ISO 29301:2017Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structuresAtcelts
45399ISO 29301:2010Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structuresAtcelts
70359ISO 25498:2018Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmissionAtcelts
42951ISO 25498:2010Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmissionAtcelts
90100ISO/DIS 25387Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscopeAptauja slēgta
79091ISO 24639:2022Analyse par microfaisceaux — Microscope électronique analytique — Procédure d'étalonnage de l'échelle d'énergie pour l'analyse élémentaire par spectroscopie de perte d'énergie des électronsStandarts spēkā
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 25 ieraksta(-iem).