ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 90097 | ISO/NP 25386.2 | Microbeam Analysis-Analytical Electron Microscopy-Vocabulary used in TEM grids and supporting films | Izstrādē |
| 91667 | ISO/PWI 25836 | Titre manque | Izstrādē |
| 84838 | ISO/FDIS 16887 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Guidelines for transmission electron microscopy specimen preparation by lift-out method using focused ion beam system | Izstrādē |
| 42951 | ISO 25498:2010 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Atcelts |
| 70359 | ISO 25498:2018 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Atcelts |
| 67438 | ISO 20263:2017 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couches | Atcelts |
| 70360 | ISO 29301:2017 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Atcelts |
| 45399 | ISO 29301:2010 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique en transmission analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques | Atcelts |
| 87682 | ISO 20263:2024 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials | Standarts spēkā |
| 86942 | ISO 29301:2023 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Standarts spēkā |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 26 ieraksta(-iem).