ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 84289 | ISO/WD 13139 | Titre manque | Izstrādē |
| 86203 | ISO 19214:2024 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopy | Izstrādē |
| 90097 | ISO/PWI 25386 | Titre manque | Izstrādē |
| 32939 | ISO/CD 17270 | Microscopie électronique analytique — Méthode d'essai pour déterminer des paramètres expérimentaux pour la spectroscopie de perte d'énergie d'électron (EELS) | Izstrādē |
| 42952 | ISO/NP 25499 | Guidelines for the energy calibration and energy resolution determination methods for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
| 91808 | ISO/NP 25871 | Microbeam analysis --Analytical electron microscopy — Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction | Izstrādē |
| 60576 | ISO/WD 17802 | Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods of the energy calibration for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
| 90100 | ISO/DIS 25387 | Titre manque | Izstrādē |
| 45355 | ISO/WD 29222 | Titre manque | Izstrādē |
| 84838 | ISO/CD 16887 | Titre manque | Izstrādē |
Attēlo no 1. līdz 10. no pavisam 24 ieraksta(-iem).