ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 70359 | ISO 25498:2018 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Atcelts |
| 42951 | ISO 25498:2010 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Atcelts |
| 91667 | ISO/PWI 25836 | Titre manque | Izstrādē |
| 91666 | ISO/PWI 25835 | Titre manque | Izstrādē |
| 90097 | ISO/PWI 25386 | Microbeam Analysis-Analytical Electron Microscopy-The main performance parameters and design specifications of the TEM standard grid | Izstrādē |
| 84838 | ISO/DIS 16887 | Titre manque | Izstrādē |
| 32939 | ISO/CD 17270 | Microscopie électronique analytique — Méthode d'essai pour déterminer des paramètres expérimentaux pour la spectroscopie de perte d'énergie d'électron (EELS) | Izstrādē |
| 84289 | ISO/WD 13139 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals | Izstrādē |
| 45355 | ISO/WD 29222 | Titre manque | Izstrādē |
| 42950 | ISO/NP 25497 | Guidelines for the determination of experimental parameters for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 25 ieraksta(-iem).