ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 75516 | ISO 23420:2021 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la résolution énergétique pour l'analyse spectrale de la perte d'énergie des électrons | Atcelts |
| 42951 | ISO 25498:2010 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Atcelts |
| 45399 | ISO 29301:2010 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique en transmission analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques | Atcelts |
| 91666 | ISO/NP 25835 | Titre manque | Izstrādē |
| 92612 | ISO/AWI 26100 | Titre manque | Izstrādē |
| 32939 | ISO/CD 17270 | Microscopie électronique analytique — Méthode d'essai pour déterminer des paramètres expérimentaux pour la spectroscopie de perte d'énergie d'électron (EELS) | Izstrādē |
| 84289 | ISO/WD 13139 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals | Izstrādē |
| 45355 | ISO/WD 29222 | Titre manque | Izstrādē |
| 90097 | ISO/PWI 25386 | Microbeam Analysis-Analytical Electron Microscopy-The main performance parameters and design specifications of the TEM standard grid | Izstrādē |
| 42950 | ISO/NP 25497 | Guidelines for the determination of experimental parameters for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 25 ieraksta(-iem).