ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 67438 | ISO 20263:2017 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials | Atcelts |
| 70360 | ISO 29301:2017 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Atcelts |
| 70359 | ISO 25498:2018 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Atcelts |
| 60576 | ISO/WD 17802 | Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods of the energy calibration for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
| 32939 | ISO/CD 17270 | Microscopie électronique analytique — Méthode d'essai pour déterminer des paramètres expérimentaux pour la spectroscopie de perte d'énergie d'électron (EELS) | Izstrādē |
| 84289 | ISO/WD 13139 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals | Izstrādē |
| 84838 | ISO/CD 16887 | Titre manque | Izstrādē |
| 42950 | ISO/NP 25497 | Guidelines for the determination of experimental parameters for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
| 91808 | ISO/AWI 25871 | Microbeam analysis --Analytical electron microscopy — Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction | Izstrādē |
| 92612 | ISO/AWI 26100 | Titre manque | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 25 ieraksta(-iem).