ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 70359 | ISO 25498:2018 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Atcelts |
| 67438 | ISO 20263:2017 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couches | Atcelts |
| 70360 | ISO 29301:2017 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Atcelts |
| 32939 | ISO/CD 17270 | Microscopie électronique analytique — Méthode d'essai pour déterminer des paramètres expérimentaux pour la spectroscopie de perte d'énergie d'électron (EELS) | Izstrādē |
| 91667 | ISO/PWI 25836 | Titre manque | Izstrādē |
| 90097 | ISO/PWI 25386 | Microbeam Analysis-Analytical Electron Microscopy-The main performance parameters and design specifications of the TEM standard grid | Izstrādē |
| 91666 | ISO/NP 25835 | Titre manque | Izstrādē |
| 84838 | ISO/FDIS 16887 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Guidelines for transmission electron microscopy specimen preparation by lift-out method using focused ion beam system | Izstrādē |
| 84289 | ISO/CD 13139 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals | Izstrādē |
| 91808 | ISO/CD 25871 | Microbeam analysis --Analytical electron microscopy — Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction | Izstrādē |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 25 ieraksta(-iem).