ISO/TC 202/SC 3

Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
86203ISO 19214:2024Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopyStandarts spēkā
84838ISO/FDIS 16887Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Guidelines for transmission electron microscopy specimen preparation by lift-out method using focused ion beam systemIzstrādē
84289ISO/CD 13139Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metalsIzstrādē
79091ISO 24639:2022Analyse par microfaisceaux — Microscope électronique analytique — Procédure d'étalonnage de l'échelle d'énergie pour l'analyse élémentaire par spectroscopie de perte d'énergie des électronsStandarts spēkā
75516ISO 23420:2021Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysisStandarts spēkā
70360ISO 29301:2017Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structuresAtcelts
70359ISO 25498:2018Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmissionAtcelts
67438ISO 20263:2017Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couchesAtcelts
64022ISO 19214:2017Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la direction apparente de croissance des cristaux filiformes par microscopie électronique en transmissionStandarts spēkā
60576ISO/WD 17802Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods of the energy calibration for electron energy loss spectroscopyIzstrādē
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 26 ieraksta(-iem).