ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 91666 | ISO/PWI 25835 | Titre manque | Izstrādē |
| 91667 | ISO/PWI 25836 | Titre manque | Izstrādē |
| 84289 | ISO/WD 13139 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals | Izstrādē |
| 60576 | ISO/WD 17802 | Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods of the energy calibration for electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
| 45355 | ISO/WD 29222 | Titre manque | Izstrādē |
Attēlo no 21. līdz 25. no pavisam 25 ieraksta(-iem).