ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 75516 | ISO 23420:2021 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la résolution énergétique pour l'analyse spectrale de la perte d'énergie des électrons | Standarts spēkā |
| 87682 | ISO 20263:2024 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couches | Standarts spēkā |
| 67438 | ISO 20263:2017 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials | Atcelts |
| 86203 | ISO 19214:2024 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopy | Izstrādē |
| 64022 | ISO 19214:2017 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy | Standarts spēkā |
Attēlo no 21. līdz 25. no pavisam 25 ieraksta(-iem).