ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 87682 | ISO 20263:2024 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials | Standarts spēkā |
| 86942 | ISO 29301:2023 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Standarts spēkā |
| 86203 | ISO 19214:2024 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopy | Standarts spēkā |
| 75516 | ISO 23420:2021 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis | Standarts spēkā |
| 64022 | ISO 19214:2017 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la direction apparente de croissance des cristaux filiformes par microscopie électronique en transmission | Standarts spēkā |
| 79091 | ISO 24639:2022 | Analyse par microfaisceaux — Microscope électronique analytique — Procédure d'étalonnage de l'échelle d'énergie pour l'analyse élémentaire par spectroscopie de perte d'énergie des électrons | Standarts spēkā |
Attēlo no 21. līdz 26. no pavisam 26 ieraksta(-iem).