ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 90100 | ISO 25387:2026 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope | Standarts spēkā |
| 91666 | ISO/AWI 25835 | Titre manque | Izstrādē |
| 91667 | ISO/PWI 25836 | Titre manque | Izstrādē |
| 91808 | ISO/CD 25871 | Microbeam analysis --Analytical electron microscopy — Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction | Izstrādē |
| 92612 | ISO/CD 26100 | Titre manque | Izstrādē |
| 95442 | ISO/AWI 23420 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la résolution énergétique pour l'analyse spectrale de la perte d'énergie des électrons | Izstrādē |
Attēlo no 21. līdz 26. no pavisam 26 ieraksta(-iem).